720德国EPK涂层测厚仪MINITEST720

720德国EPK涂层测厚仪MINITEST720

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪

-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性

-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错

SIDSP技术-全球最新技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势

什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界顶尖技术生产。

SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项尖端的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量